ID：110143
英文标题：readiness test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110142
英文标题：shop replaceable unit
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110141
英文标题：mondestructive testing
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110140
英文标题：presence test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110139
英文标题：wrap-around test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110138
英文标题：closed loop testing
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110137
英文标题：marginal testing
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110136
英文标题：in-circuit test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110135
英文标题：go/no-go test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110134
英文标题：external test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110133
英文标题：performance test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110132
英文标题：static functional test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110131
英文标题：line replaceable unit
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110129
英文标题：dynamic functional test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22
ID：110127
英文标题：functional test
缩略语：
更新时间：2022-12-14 20:22