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MIL STD 750 3国防部试验方法半导体器件的标准晶体管电气试验方法第3部分试验方法3000至3999（2012年1月3日）

ID：47221

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页数：690页

时间：2023-03-19

金币：20

上传者：战必胜
INCH–POUND
MIL–STD–750–3
3 January 2012
SUPERSEDING
MIL–STD–750E (IN PART)
20 November 2006
(see 6.4)
DEPARTMENT OF DEFENSE
TEST METHOD STANDARD
TRANSISTOR ELECTRICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
PART 3: TEST METHODS 3000 THROUGH 3999
AMSC N/A FSC 5961
The documentation and process
conversion measured necessary
to comply with this revision shall
be completed by 3 July 2012.
Downloaded from http://www.everyspec.com
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