MIL STD 750 4(w变更3)国防部试验方法半导体器件标准二极管电气试验方法第4部分试验方法4000至4999(2019年12月20日)

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INCH-POUND
MILSTD7504
w/CHANGE 3
30 December 2019
SUPERSEDING
MIL−STD−750−4
w/CHANGE 2
18 August 2017
DEPARTMENT OF DEFENSE
TEST METHOD STANDARD
DIODE ELECTRICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
PART 4: TEST METHODS 4000 THROUGH 4999
The documentation and process
conversion measu
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comply with this revision shall be
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