MIL STD 740 1 军用标准 《船载设备气载噪声测量和验收标准》（1986年12月30日）[S BY MIL STD 1474]
MIL STD 740 2 军用标准 船载设备结构振动加速度测量和验收标准（1986年12月30日）
MIL STD 740B 010381
MIL STD 740B通知1 041603
MIL STD 746A 军用标准 铸造炸药射线照相试验要求（1963年1月31日）
MIL STD 750 1（W变更2）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2013年7月1日）
MIL STD 750 1（W变更1）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2013年3月11日）
MIL STD 750 1（W变更3）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2013年10月1日）
MIL STD 750 1（W变更4）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2014年8月22日）
MIL STD 1627C国防部设计标准 船舶管道系统用弯管（1994年9月30日）
MIL STD 750 1A（W变更1）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2016年5月13日）
MIL STD 1629A执行故障模式影响和临界性分析的 军用标准 程序（1980年11月24日）[S号文件]
MIL STD 750 1（W变更5）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2015年4月24日）
MIL STD 1634B（通知4）标准电子模块程序的 军用标准 模块说明（1995年12月5日）[S S文件]
MIL STD 750 1A（W变更2）国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2016年8月12日）
MIL STD 1663 军用标准 使用内部约束系统套件在商用多式联运集装箱中装载和约束弹药和爆炸物（1980年4月25日）
MIL STD 750 1国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2012年1月3日）
MIL STD 750 1A国防部试验方法半导体器件标准环境试验方法第1部分试验方法1000至1999（2015年12月11日）
MIL STD 750 2（W变更2）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2012年11月23日）
MIL STD 750 2（W变更1）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2012年6月25日）
MIL STD 750 2（W变更3）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2018年2月7日）
MIL STD 750 2（W变更3）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法试验方法2001至2999（2013年4月29日）
MIL STD 750 2（W变更5）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法试验方法2001至2999（2014年5月2日）
MIL STD 750 2（W变更4）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法试验方法2001至2999（2013年9月1日）
MIL STD 750 2A（W变更1）国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2015年12月24日）
MIL STD 750 2国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2012年1月3日）
MIL STD 750 3国防部试验方法半导体器件的标准晶体管电气试验方法第3部分试验方法3000至3999（2012年1月3日）
MIL STD 750 2A国防部试验方法半导体器件标准机械试验方法第2部分试验方法2001至2999（2015年1月23日）
MIL STD 750 4（w变更1）国防部试验方法半导体器件标准二极管电气试验方法第4部分试验方法4000至4999（2014年8月15日）
MIL STD 750 4（w变更3）国防部试验方法半导体器件标准二极管电气试验方法第4部分试验方法4000至4999（2019年12月20日）
MIL STD 750 4（w变更2）国防部试验方法半导体器件标准二极管电气试验方法第4部分试验方法4000至4999（2017年8月18日）
MIL STD 750 4国防部试验方法半导体器件标准二极管电气试验方法第4部分试验方法4000至4999（2012年1月3日）