文章
计量近室温光子数分辨探测器的设计研究
Zachary H.Lev ine 1,*,Joshu a C.Bienfang 1,Alan L.Mig
1 国家标准技术研究院量子测量处、
盖瑟斯堡,马里兰州 20899-8410,美国;joshua.bienfang@nist.gov(J.C.B.);migdall@nist.gov(A.L.M.)
2 联合量子研究所,College Park,MD 20742-0001,美国
3 美国马里兰州盖瑟斯堡国家标准与技术研究所纳米级器件表征部,20899-8423;
neil.zimmerman@nist.gov
* 通信:zlevine@nist.gov
摘要
我们描述并模拟了一种非低温光学探测器,该探测器被设计成以计量精度对入射光子进行
计数。我们的设计包括一个半导体器件
−10 C◦ 并且预计可以分辨多达 10 个光子的脉冲,误差率为 2%
光子的输入数。我们使用光学损耗、离散电子损耗和噪声以及电子噪声的估计和模拟的组
合来估计整体器件性能。
关键词:光子计数;室温硅器件;错误率低
学术编辑:阮玉玺、刘斌、范元龙
收到日期:2025 年 7 月 18 日
修订日期:2025 年 8 月 12 日
受理日期:2025 年 8 月 28 日
发布日期:2025 年 9 月 3 日
引文:莱文,Z.H。边芳,J.C.;米格
达尔公司;齐默尔曼,新墨西哥州一
种计量近室温光子数分辨探测器:设
计研究。传感器
2025,25,5470。https://doi.org/
10.3390/s25175470
版权所有:©2025 年作者。被许可方
MDPI,瑞士巴塞尔。本文是根据知识
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章。
1.导言
具有计量级光子数错误率(即,探测器输出正确报告入射到其输入上的光子数的高概
率)的光学探测器不仅代表了光功率校准的主要标准,而且为光子量子信息科学提供了关
键的使能技术【1-6】。不幸的是,在现实世界的设备中实现低光子数错误率具有独特的挑
战性,因为它需要低噪声和高单光子系统检测效率以及高光子数分辨率。这些挑战只会随
着光子数量的增加而增加。例如,单光子探测效率 99%(1%错误率)的器件,10 个光子的
错误率接近 10%。通常,提供最高单光子检测效率(通常为 99%)的技术需要低温冷却至
1K 或更低。另一方面,在室温附近工作的探测器不能达到最高的探测效率,或者不能提供
清晰的光子数分辨率【7】,或者提供非常有限的光子数分辨率【8,9】。
检测单光子的能力不一定意味着具有光子数分辨(PNR)设备的能力。例如,考虑单光
子雪崩探测器(SPAD)和微通道板。对于这样的系统,尽管可以检测到单个光子,但雪崩过
程第一步中固有的噪声——它可以产生两个或三个或更多个电子——意味着这些迄今为止
还没有作为 PNR 探测器的候选,至少没有作为单个设备。
因此,实现某种程度的光子数分辨率的一种常见方法是多路复用非 PNR 探测器以形成
准 PNR 探测器【10,11】。不幸的是,这种方法固有地受到以下事实的限制:多个光子最终
到达同一个非 PNR 检测器的概率总是非零,以及噪声