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传感器
2025,25,5470
hps://doi.org/10.3390/s25175470
文章
计量近室温光子数分辨探测器的设计研究
Zachary H.Lev ine 1,*,Joshu a C.Bienfang 1,Alan L.Mig
1 国家标准技术研究院量子测量处、
盖瑟斯堡,马里兰州 20899-8410,美国;joshua.bienfang@nist.gov(J.C.B.);migdall@nist.gov(A.L.M.)
2 联合量子研究所,College Park,MD 20742-0001,美国
3 美国马里兰州盖瑟斯堡国家标准与技术研究所纳米级器件表征部,20899-8423;
neil.zimmerman@nist.gov
* 通信:zlevine@nist.gov
摘要
我们描述并模拟了一种非低温光学探测器,该探测器被设计成以计量精度对入射光子进行
计数。我们的设计包括一个半导体器件
10 C 并且预计可以分辨多达 10 个光子的脉冲,误差率为 2%
光子的输入数。我们使用光学损耗、离散电子损耗和噪声以及电子噪声的估计和模拟的组
合来估计整体器件性能。
关键词:光子计数;室温硅器件;错误率低
学术编辑:阮玉玺、刘斌、范元龙
收到日期:2025 7 18
修订日期:2025 8 12
受理日期:2025 8 28
发布日期:2025 9 3
引文:莱文,Z.H。边芳,J.C.;米格
达尔公司;齐默尔曼,新墨西哥州一
种计量近室温光子数分辨探测器:设
计研究。传感器
2025,25,5470。https://doi.org/
10.3390/s25175470
版权所有:©2025 年作者。被许可方
MDPI,瑞士巴塞尔。本文是根据知识
共享署名(CCBY)许可(https://
creativecommons.org/licenses/by/
4.0/)的条款和条件分发的开放获取文
章。
1.导言
具有计量级光子数错误率(即,探测器输出正确报告入射到其输入上的光子数的高
率)的光学探测器不仅代表了光准的要标准,且为光子量子提供
键的使能技术1-6】不幸的是,在现实世界的设备中实现低光子数错误率具有独特
性,要低噪声和光子统检以及高光子数分辨率些挑战只会随
子数量的增加而增子探 99%(1%错误率)的器件10 个光子的
10% 99%
1K 或更低。一方作的探测器能达到高的探测率,
清晰的光子数分辨率7提供的光子数分辨率8,9
光子力不意味有光数分(PNR)的能例如虑单
雪崩探测器(SPAD)道板。对于这样系统尽管可以测到个光子,但雪崩过
程第步中固有的噪声——可以产生两或三或更多个电子——意味着这些迄今
还没有作为 PNR 探测器的候选至少没有作为个设
因此实现某度的光子数分辨率的一种常见是多路复用非 PNR 测器以
PNR 探测器10,11不幸的是,种方法固受到以下事实限制:多个光子最终
到达一个非 PNR 测器的概率是非,以及噪声
资源描述:

“ A Metrological Near-Room-Temperature Photon-Number-Resolving Detector: A Design Study”由Zachary H. Levine等人撰写。文章介绍了一种用于精确计数入射光子的非低温光学探测器的设计和模型,该探测器工作在−10°C,预计能分辨多达10个光子的脉冲,光子数错误率为2%。 1. **背景**:具有计量级光子数错误率的光学探测器是光功率校准的主要标准和光子量子信息科学的关键技术,但实现低光子数错误率具有挑战性。目前的技术要么需要低温冷却,要么在室温下检测效率低或光子数分辨率有限。文中提出通过数值研究探索室温下实现计量级光子数分辨率探测器的可能性。 2. **设计与性能** - **系统概述**:光子通过抗反射涂层进入圆柱形吸收区域,产生电子 - 空穴对,电子在电场作用下被收集到浮动节点,影响附近MOSFET的电流,通过分析电流来确定光子数。 - **光吸收区域**:通过增加外部反射镜、优化孔径尺寸、选择合适的吸收长度等措施,提高光吸收效率,减少反射损失。 - **电子传输到浮动节点**:电子在电场作用下通过漂移和扩散运动到浮动节点,通过合理设计电极结构和电压,确保电子能够快速、有效地传输。 - **MOSFET和浮动节点**:电子在浮动节点影响MOSFET的电流,通过Comsol模拟分析MOSFET的电流 - 电压特性,确定检测电子数的可行性。 - **设备重置**:通过设置不同的电压,清除浮动节点和吸收区域的电子,完成设备重置。 - **载流子寿命效应**:考虑热产生载流子和表面载流子寿命对探测器性能的影响,选择合适的工作温度以降低误差率。 - **误差率估计**:模拟结果表明,该探测器在10个可见光光子的分辨能力上,光子数错误率为2.1%,能够满足设计要求。

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