中文机翻:NIST:直接检测嵌入超导纳米线中的229mTh的8.4 eV内部转换能量(2025) 9页_transResult

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直接检测嵌入超导纳米线中的 229
m
Th 8.4 eV 内转换能
Galen O'Neil,1 Kjeld Beeks,2 Eric Hudson,3 Justin Jeet,3 David Leibrandt,3 Marion
Mallweger,4 Sae Woo Nam,1,*Sayan Patra,1,5,†Gil Porat,6,‡Dileep Reddy,1,5
Thorsten Schumm,7 Stephen B.Schoun,6 Benedict Seiferle,8 Christian Schneider,3
Lars von der Wense,9 Peter G.Thirolf,8 Varun Verma,1 Jun Ye,6 Chuankun Zhang 6
1
国家标准与技术研究所,325 百老汇,博尔德,CO 80303,美国 2 洛桑理工学院,Rte
Cantonale,1015 洛桑,瑞士 3 加州大学洛杉矶分校,物理与天文学系,
475 Portola Plaza Knudsen 1-129,洛杉矶,CA 90095,美国 4 斯德哥尔摩大学
物理系,SE-106 91 斯德哥尔摩,瑞典 5 科罗拉多大学物理系,博尔德,CO
80303,美国
6
JILA,国家标准与技术研究所和物理系,科罗拉多大学,博尔德,科罗拉多州 80309,美国
7
TU Wien,原子和亚原子物理研究所,Stadionallee 2,1020 维也纳,奥地利
8
慕尼黑路德维希-马克西米利安大学物理系,Am Coulombwall 1,85748 Garching,德国 9 约翰内斯·谷登堡美因
茨大学物理研究所,Staudingerweg 7,55128 美因茨,德国(日期:2025 8 25 日)
我们报道了通过内部转换(IC)衰变通道直接测量异构第一激发 229
m
Th 8.4 eV 核激发能。来
233U α 变的热化和质量过滤的反冲 229
m
Th 子被递送到超导纳米线传感器的表面并嵌入。离子
被中和,触发 IC 衰变IC 衰变释放的能量被纳米线传感器以高量子效率检测。能量分辨率由纳米线
传感器的内部量子效率的电流依赖性实现。这里介绍的技术是对基于光的检测方案的补充。IC 衰变通
道比光电发射通道快大约八个数量级,因此用超导纳米线传感器高效检测 IC 衰变的能力可能是未来
229
m
Th 实验的有价值的工具。
。介
229Th
229mTh,是已知核种景观中能最低的异构激发态,比典
的核异构体能个数量级。基于这种状态的提议的核
钟[1]可以 1019 的分数精度[2,3]
使使
与传原子比,磁场场不感,
本常互作尺度数)
4-8 229
m
Th
质研9-13地测
量学14
229mTh 钍异构体主要通过内转换(IC)光-
*已
地址:劳伦斯利弗莫尔国家实验室,7000 East Ave,利弗莫尔,CA
94550,美国
现住址:加拿大艾伯塔省埃德-蒙顿艾伯塔大学电气与计算机工程系
物理系。
VUV 1,74050[15]
CaF2 寿CaF2 IC 通道
VUV 透明体。中,由于电介质中光子态加,
CaF2 中
630 15 s 7 15 16 LiSrAlF6
568(24)s17被激发的原子核能量转到电子
229mTh IC 7(1s[18-20] 8
级。第个衰变通道,束缚内转换,讨论实验中不起重要作
用。
光电发射的钍
15 17 21
20204073843352kHz 8.3557335540208eV
激光激 CaF2 体中的异构体获得的,激参考基于 87Sr 的光学原
钟[22]。因为测量依赖由光发射的衰变,所以测量
较长(数百)。
里,我们直接检测 IC 变释放能量的,并
资源描述:

这篇论文是关于直接探测嵌入超导纳米线中\(229mTh\)的约\(8.4eV\)内转换能量的研究。研究团队通过\(233U\)的\(\alpha\)衰变产生\(229Th^{3 +}\)反冲离子,经冷却、准直、质量选择后,将其注入到冷却至\(2.7K\)的超导纳米线传感器表面。当\(229mTh\)离子嵌入纳米线并发生内转换衰变时,会释放能量,导致纳米线中的临界电流下降,从而产生一个毫伏级的脉冲信号,被纳米线传感器检测到。通过分析离子撞击和内转换衰变的时间关联和空间关联,研究团队确定了\(229mTh\)的内转换半衰期为\(7.9\mu s\),异构体分数为\(1.25(1)\%\),并测量出异构体能量为\(8.6(2_{stat})(1_{sys})eV\)。该研究为基于内转换的核时钟等应用提供了可能。

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